Difratômetro de Raios X D8 Discover, Bruker AXS
Este equipamento possui a mesma plataforma do sistema D8, com as características adicionais:
– Espelho Göbel de Terceira geração, provê a maior densidade de fluxo de raios-X, essencial à todas as aplicações em filmes finos;
– Óptica de alta performance, intercambiável, permitindo otimizar a resolução para cada aplicação e amostra;
– Estágios e porta-amostras Eulerianos que permitem grande versatilidade para estudos de difração de Raios-X por monocristais, stress residual, textura, e micro-difração;
– Ultra GID para camadas nanométricas;
– Detector bidimensional VANTEC-1;
– Varredura em temperatura no intervalo entre 80 K e 1800 K;
-Opcionais para SAXS, refletometria e orientação preferencial.
Professores Responsáveis: Roosevelt Droppa Jr. e José Fernando Queiruga Rey